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光學測量儀器

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詳細介紹

品牌	其他品牌	產地類別	進口
應用領域	電子,電氣,綜合	參數(shù)	見參數(shù)表

FS70L-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光)

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日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長，倍數(shù)高，能夠應用在各種檢測場合和質量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭，顯微鏡系統(tǒng)的放大倍率可涵蓋20X到8000X，工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。50/50三端輸出顯微鏡的粗調范圍為50mm，精確調整分辨率可達0.1mm，并可同時進行視頻輸出和雙目觀測。

FS70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等?？蓱糜谇懈睢⑿拚?、校正、給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

通用參數(shù)

特點

采用Mitutoyo遠場校正鏡頭

三端輸出設計可輕松接收視頻

轉盤可接最多四個物鏡

應用：

切割、修整、校正、給半導體電路做標記

薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。

還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

• 可用于紅外光學系統(tǒng)*。

應用：晶體硅的內部觀察；紅外光譜特征分析。